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粉体综合测试仪的标准测量指标
粉体综合测试仪主要应用于制药、电池材料、粉末涂料、非金属矿、石墨、食品、有色金属、粉体工程设计、粉体物性研究以及教学等领域。粉体综合测试仪的特点是一机多用，操作简便，重复性好，测定条件容易改变，配套完整等。粉体物性是粉体材料的基本特性，研究粉体物性对粉体生产、加工、包装、运输、储存、应用等具有重要的实际意义。粉体综合测试仪是用来测定粉体物性的仪器，具体测试项目包括休止角、崩溃角、平板角、振实密度、松装密度、分散度等。粉体综合测试仪的标准测量项目：1.休止角：粉体堆积层的自由表...
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四探针电阻率测试仪的检定要求和环境
电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多，四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便，度高，对样品的形状无严格要求。电阻率测试仪是用来测量半导体材料及工艺硅片的电阻率，或扩散层及外延层方块电阻的测量仪器。一般的四探针电阻率测试仪均已配置厚度的修正，通过厚度数值的设置，计算出不同的样品厚度对电阻率的影响。四探针电阻率测试仪检定的技术要求1、整体方法检定电阻率测试仪的标准样片，表面应没有任何脏物，长期使用应注意定期清洗(按标准样片使用...
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四探针测试仪简介
四探针测试仪-概述：数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。四探针测试仪-特点：仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽...
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表面电阻率测试仪的影响因素
表面电阻率测试仪的影响因素主要有测试电压，测试时间，环境温湿度和外界干扰这些，下面一一来看下具体的影响在哪里。1.测试电压(电场强度)对表面电阻率测试仪的影响Ø介质材料的电阻(率)值一般不能在很宽的电压范围内保持不变，即欧姆定律对此并不适用。常温条件下，在较低的电压范围内，电导电流随外加电压的增加而线性增加，材料的电阻值保持不变。超过一定电压后，由于离子化运动加剧，电导电流的增加远比测试电压增加的快，材料呈现的电阻值迅速降低。由此可见，外加测试电压越高，材料的电阻值越低，以致...
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粉末流动性测定仪相关简介
粉末流动性测定仪粉体流动性测试仪通过测试休止角（安息角）、定质量流速、定体积流速、表观密度、松装比、体积密度、堆积密度及松散密度等数据来评定粉末流动能力；采用多规格可更换出口孔径之漏斗;根据测试粉体流动能力状况来选择配置出口漏斗孔径数;出口控制档板，秒表计时功能;.配置标准不锈钢量筒，固定圆盘法角度测试.本品为粉体流动性测试综合性测量平台。粉末流动性测定仪测量1称量50g一份的样品，到±0.1g。2用手堵住漏斗底部小孔，把称量好的50g样品倒进漏斗中，注意粉末必...
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水份检测的意义
水分测定仪简介：水分测定仪能够检测各类有机及无机固体、液体、气体等样品中含水率的的仪器叫做水分测定仪，按测定原理可以分类物理测定法和化学测定法两大类。物理测定法常用的用失重法、蒸馏分层法、气相色谱分析法等，化学测定方法主要有卡尔费休法（KarlFischer）、甲苯法等，标准化组织把卡尔费休（KarlFischer）方法定为测微量水分标准，我们也把这个方法定为标准测微量水分。常见的失重法水分仪有卤素水分测定、红外水分测定仪、微波水分测定仪等；常见的卡尔费休水分测定仪主要有容量...
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颗粒松装密度测定仪的测量过程介绍
颗粒松装密度测定仪是一种常用于实验室的测定颗粒质量密度的仪器。它可以测量颗粒的流动性和松装密度，具体测量过程如下。颗粒松装密度测定仪适用于用标准漏斗法测定金属粉末的流动性。凡能自由流过孔径为2.5mm标准漏斗的粉末，均可采用本装置。注：FL4-1型号漏斗为黄铜材质。一、测量原理金属粉末的流动性，以50g金属粉末流过规定孔径的标准漏斗所需要的时间来表示。二、颗粒松装密度测定仪仪器结构1漏斗(小孔直径2.5mm和5.0mm)漏斗为黄铜材料制成，且具有足够的壁厚和硬度，以防变形和过...
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电压降测试仪使用方法
电压降测试仪功能1、该仪器适用于测量不可重接插头插销与连接插头引出线等类似接线口的电压降，从而判断接线口优劣，本仪器具有可调的恒电流输出，微电压测试和数码管显示。2、测试可设定时间，时间到和电流超高关断电路测量。3、该产品采用先进电路，其测量出的电压降值直接通过数码管显示，直观明了。电压降测试仪使用方法端子与电线压接处的电压降试验，在端子与电线压接处中间位置至电线75mm长的电线处(剥去绝缘层钎焊牢固，宽度可根据客户要求定做)的两点间测量，扣除75mm长的电线电压降后即为端子...
