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    2015-9

    电阻率测试仪技术介绍

    电阻率测试仪是电阻率监视仪,电阻率和温度同时显示,并具有电阻率低限报警功能的在线面板式仪表,广泛应用于制药、电子、化工等行业对工业流程水质的在线监测。它采用了单片机技术,对纯水的温度系数、电极常数及电阻率低限报警点通过面板上的按键自由设置,是各种中小型纯水设备的理想配套仪表。宁波江北瑞柯伟业仪器生产的FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的标准(ASTMF84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T155...
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    2015-9

    半导体电阻率测试仪稳定性强,适用范围广

    半导体电阻率测试仪是为了适应当前迅速发展中的高分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关标准设计的。半导体电阻率测试仪是根据四探针原理,适合半导体器材厂,材料厂用于测量半导体材料(片状、棒状)的体电阻率,方块电阻(簿层电阻),也可以用作测量金属薄层电阻,经过对用户、半导体厂测试的调查,根据美国ASTM标准的规定,在电路和探头方面作了重大的修改和技术上的许多突破,它更适合于半导体器材厂工艺检测方面对中值、高阻硅、锗材料方块电阻和体电阻率的测量需要,成为普及型的电阻率测试仪,具有...
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    2015-8

    接触压降测试仪功能强大

    接触压降测试仪专业用于测试各种开关、继电器、接触器、接线座、接线连接器等接触点两端间的实际工作电压降。接触压降测试仪是科研单位、计量测试部门、生产企业等单位的*仪器。接触压降测试仪的主要功能:1.通过无线的方式自动完成三相三线或三相四线制的电压互感器二次压降的测量,不需要普通方式中要在仪器到测试远端铺设一条很长的电压测试线,这样可避免由于线路过长引起的不必要的短路故障,而这正是电压互感器zui应避免的;而且有时这条电压测试线需要穿越公路,如无人看守来往车辆会将线轧坏,本仪器有...
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    2015-8

    什么是粉体流动测试仪?

    颗粒状物料是由尺寸大小从亚微颗粒至大石块和矿石的各类固体物质组成。在粉体测试中,至少90%的样品须由直径小于1mm的颗粒组成。很多实例中,更大颗粒的粉体仍旧可以通过筛选1mm的物料并测试这些纤细部分而获得有效分析。(纤细物料决定了包含有大尺寸颗粒物料的整体流动特性)Brookfield用来命名这类物料的专业术语称为“粉体”,因此仪器及命名为“粉体流动测试仪”。粉体流动测试仪性能特点PFT粉体流动测试仪为工业处理设备中的粉体流动行为提供了快捷而容易的分析。PFT粉体流动测试仪不...
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    2015-8

    体积电阻测试仪原理及安全操作准则

    体积电阻测试仪工作原理:根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。体积电阻测试仪高阻测量一定要严格按使用步聚进行,否...
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    2015-7

    粉体综合测试仪的标准测量指标

    粉体综合测试仪主要应用于制药、电池材料、粉末涂料、非金属矿、石墨、食品、有色金属、粉体工程设计、粉体物性研究以及教学等领域。粉体综合测试仪的特点是一机多用,操作简便,重复性好,测定条件容易改变,配套完整等。粉体物性是粉体材料的基本特性,研究粉体物性对粉体生产、加工、包装、运输、储存、应用等具有重要的实际意义。粉体综合测试仪是用来测定粉体物性的仪器,具体测试项目包括休止角、崩溃角、平板角、振实密度、松装密度、分散度等。粉体综合测试仪的标准测量项目:1.休止角:粉体堆积层的自由表...
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    2015-7

    四探针电阻率测试仪的检定要求和环境

    电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多,四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便,度高,对样品的形状无严格要求。电阻率测试仪是用来测量半导体材料及工艺硅片的电阻率,或扩散层及外延层方块电阻的测量仪器。一般的四探针电阻率测试仪均已配置厚度的修正,通过厚度数值的设置,计算出不同的样品厚度对电阻率的影响。四探针电阻率测试仪检定的技术要求1、整体方法检定电阻率测试仪的标准样片,表面应没有任何脏物,长期使用应注意定期清洗(按标准样片使用...
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    2015-7

    四探针测试仪简介

    四探针测试仪-概述:数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的,于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。四探针测试仪-特点:仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽...
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