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ITO导电箔膜四探针方阻测试仪操作步骤

型号:

产品时间:2020-03-24

简要描述:

ITO导电箔膜四探针方阻测试仪操作步骤, 改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确 四探针测试仪

详细介绍

ITO导电箔膜四探针方阻测试仪操作步骤

适用范围Widely used:

1.覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,

3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,

4.抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,

 

ITO导电箔膜四探针方阻测试仪操作步骤

 

规格型号

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方块电阻范围

10-5~2×105Ω/□

10-4~2×103Ω/□

10-3~2×105Ω/□

10-3~2×103Ω/□

10-2~2×105Ω/□

10-2~2×103Ω/□

2.电阻率范围

10-6×106Ω-cm

10-5×104Ω-cm

10-4~2×106Ω-cm

10-4~2×104-cm

10-3~2×106Ω-cm

10-3~2×104-cm

3.测试电流范围

0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

10μA,100μA,1mA,10mA,

100 mA

0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

4.电流精度

±0.1%读数

±0.2%读数

±0.2%读数

±0.3%读数

±0.3%读数

±0.3%读数

5.电阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.显示读数

液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式

普通单电测量

8.工作电源

输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整机不确定性误差

≤4%(标准样片结果)

10.选购功能

选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

11.测试探头

探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

 

 


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