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高温电阻率测试系统数据管理

型号:FT-350

产品时间:2020-03-21

简要描述:

高温电阻率测试系统数据管理,高温电阻率测试系统 生产企业、高等院校、科研部门对导体材料在高温下电阻率数据的测量。用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.

详细介绍

高温电阻率测试系统数据管理

高温电阻率测试系统 生产企业、高等院校、科研部门对导体材料在高温下电阻率数据的测量

高温电阻率测试系统

电阻测量范围: 
1、电阻率:
1×10-8~2×106Ω-cm
电   阻:1×10-8~2×106Ω

电导率:5 ×10-6~1×108ms/cm

分辨率:  zui小0.1μΩ  
测量误差±(0.05%读数±5字)
2、测量电压量程: 2mV   20mV  200mV 2V 
   测量精度±(0.1%读数)

分辨率:  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴电流输出:直流电流 0~10000mA 连续可调,由交流电源供电。
   ⑵量程:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,1000mA,10A量程可自动转换或者人工设定. 
   ⑶误差:±0.2%读数±2字

4. 主机外形尺寸:330mm*340mm*120mm

5、显示方式:液晶显示

zui高温度: 1200℃可调节;冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C

11、升温速度:9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃;功率:3kw.

12、炉膛材料:采用复合陶瓷纤维材料,具有真空成型,高温不掉粉的特征。

高温电阻率测试系统数据管理

 

概述:

采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制,解决半导体材料的电导率对温度变化测量要求,软件实时绘制出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线图谱,及过程数据值的报表分析.

 


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