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四探针方阻电阻率测试仪检测范围

简要描述:四探针方阻电阻率测试仪检测范围,四探针组合双电测量方法,2.液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-06-25
  • 访  问  量:1459
详细介绍
品牌ROOKO/瑞柯价格区间面议
自动化度半自动产地类别国产
应用领域农业,文体,能源,印刷包装

四探针方阻电阻率测试仪检测范围

功能描述Description:

  • 四探针组合双电测量方法
  • 液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.
  • 集成电路系统、恒流输出.
  • 选配:PC软件进行数据管理和处理.
  • 提供中文或英文两种语言操作界面选择

参照标准:

1.硅片电阻率测量的标准(ASTM F84).

2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.

四探针方阻电阻率测试仪检测范围

双电组合测试方法:

利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,适用于斜置式四探针对于微区的测试。

适用范围Widely used:

1.覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,

3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,

4.抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等

 

 


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