当前位置:主页 > 技术文章 > 四探针电阻率测试仪的探头该如何选择
四探针电阻率测试仪的探头该如何选择
时间:2018-06-13 点击次数:939
   四探针电阻率测试仪的探头该如何选择?

  四探针电阻率测试仪根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

  四探针电阻率测试仪具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。

  四探针电阻率测试仪适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

版权所有 © 2019 宁波瑞柯伟业仪器有限公司 浙ICP备16040776号-2 技术支持:化工仪器网 管理登陆 GoogleSitemap

在线客服 联系方式 二维码

服务热线

86-0574-27976124

扫一扫,关注我们