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FT-302电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪
一、FT-302电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪描述：FT-302电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪是根据国标GB11017-89所规定的测试方法和技术指标而设计的，用来测试高压电缆半导电内外屏蔽层的电阻率，采用四端子电流—电压降压法原理，能够有效地排除测试中产生的接触电阻和引线电阻的影响，通过的测试架能够对不同直径的电缆迅速而准确地测量其屏蔽层的电阻。二、FT-302电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪仪器介绍：仪器由电阻率测试仪和测试治具两大部分组成，测试治具有夹持加压机构，能够良好地夹紧...
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电阻率测试仪检定流程
电阻率测试仪具有测试精度高、操作方便，屏幕显示、人机对话、自动进行数据处理打印等特点，适合于各电线电缆厂，合金材料厂、高等院校、科研单位对金属导体材料的研究和检测之用，可测量导线每米长度电阻、体电阻率和质量电阻率。本测试装置为综合性测试系统，设计为测试台结构，主要由先进的多功能样品夹具，高精度数字电压表、宽量程高稳定直流恒定电流源，微处理机系统等部分组成，多功能样品夹具由特殊导电合金精密加工而成，接触良好，导电性能好，具有定位精度高等特点，高精度数字电压表灵敏度高、用LED4...
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粉末密度测试仪
凝土拌合物表观密混度即是混凝土拌合物捣实后的“单位体积质量”，以kg/`m^3`计。方法要点如下：仪器：（1）5L容量筒；（2）50kg台秤；（3）混凝土振动台；（4）粉末密度测试仪（5）捣棒￠16×650mm.方法：坍落度大于70mm时宜用捣棒，坍落度小于70mm时宜用振动台。采用捣棒捣实时，应根据容量筒的大小决定分层与捣实次数：用5L容量筒时，混凝土拌合物应分两层装入，每层的插捣次数应为25次；用大于5L的容量筒时，每层混凝土的高度不应大于100mm，每层插捣次数应按每1...
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FT-301粉末电阻率测试仪的组成
FT-301粉末电阻率测试仪本测试台参照有关标准进行设计，可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属粉末进行电阻、电阻率多用途的测量。组成及特点：测试台为探头、加压机构、粉末标准容器、压力检测、厚度检测等单元组成。压力机构采用手动操作，压力平稳可调，电子数码显示压力值。本仪器可一边加压同步测试，可方便测试不同压力下粉末的导电性能曲线，也可以单独作为粉末压制成片的工具使用，成片后可脱模取出，用普通四探针法测试相关参数！本仪器具有测量精度高，操作简便、稳定性好，重复性好，一机多用...
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表面电阻率测试仪测试标准
当温度较低时，材料会产生内应力，使其中的导电添加物之间距离增加，从而增大其电阻。因此，必须要了解湿度和温度。表面阻抗平行探头阻抗测量法平行探头阻抗测量法是符合EOS/ESD－S11.11－1993标准的测量方法，这是一种快速的测量平面均匀材料电阻值的方法。下面是使用表面电阻率测试仪测试的测试标准和使用方法。表面电阻率测试仪用于多层材料的测量，但是在阻抗值报告中必须注明测量时的温度和湿度条件。将表放在待测量的物体表面。将开关调到所需的电压位置(10伏或100伏)。以大约5磅的压...
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粉体振实密度测定仪测定方法
粉体振实密度测定仪用于测量粉末的振实密度规范要求，粉末经振实后，其密度的增大百分率是粉末多种性能的综合体现，。该仪器是采用一种靠偏心轮的转动使定向滑杆上下滑动，敲击钻座，使量筒内粉末逐渐被振实的装置，主要用于各种形状粉末振实密度的测定，对非金属粉末也可借鉴使用。振实密度有一个重要的特征指标是振实容密度，或简称为振实密度，即粉体（或粉体混合物）在外力作用下的zui大包装密度。这时，粉体具有zui小的包装体积。包装体积还依赖与其它因素，包括粒度分布，真密度，粒形以及因湿度导致的粘...
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陶粒体积密度测试仪测试标准
一、陶粒体积密度测试仪满足标准：根据国内标准APIRP60、Q/SY124-2007和SY/T5108-2006压裂支撑剂性能指标及测试推荐方法及QSY125-2007压裂支撑剂性能制表及评价测试方法制作陶粒体积密度测试仪体积密度：单位堆积体积的支撑剂质量称为支撑剂体积密度；单位堆积体积的陶粒质量称为陶粒的体积密度，是包含陶粒本身、开口气孔和闭口气孔三部分的平均密度。单位是g/mL体积密度测试仪桶状容器的体积V。约等于100ml.二、陶粒体积密度测试仪测试方法：1.保证支撑剂...
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四探针电阻率测试仪检定标准
四探针电阻率测试仪示值基本误差的检定有两种检定方法，用标准样片的整体检定方法和用模拟电路的分部件检定法。可用其中任何一种方法进行检定。用硅单晶电阻率标准样片对电阻率测试仪进行整体检定注：一般分为方块电阻检定和电阻率检定，对于只能测量方块电阻的测试仪就对该仪器进行方块电阻检定。对于既能测试方块电阻又能测电阻率的电阻率测试仪，可对电阻率进行检定。如果用户提出只对方块电阻进行检定也可以只检方块电阻。检定的四探针电阻率测试仪应作绝缘电阻的测量。在仪器的探针之间或探针与仪器外壳之间可用...
