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    2015-5

    绝缘材料高温表面和体积电阻率测试系统符合的标准要求

    适用标准:GB/T22042-2008《服装防静电性能表面电阻率试验方法》;EN1149-1-1995《防护服静电性能部分表面电阻检验方法和要求》;GB/T1410-2006《固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》(与标准IEC93-1980等效);FZ/T64013-2008《静电植绒毛绒》;SJ/10694-2006《电子产品制造与应用系统防静电检测通用规范》6.1及ASTMD257《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》要求制作。GB/T2439-2001《硫化橡胶或...
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    2015-3

    硅片电阻率测量方法,四探针方阻仪原理

    本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.按照硅片电阻率测量的标准(ASTMF84)及标准设计制造该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准,本机...
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    2015-1

    粉末电阻率测试仪组成结构功能说明

    粉末电阻率测试仪是为了适应当前迅速发展中的高分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关标准设计的。粉末电阻率测试仪适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态、粉态和纳米样品质量的一种重要工具。仪器直接采用数字显示。仪器的可靠性和稳定性大大增强,更方便于用户,而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、高分子纳米粉末进行电阻、电阻率多用途的测量。适用于有机、无机粉末材料(包括纳米级)的电阻率测量,特别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测...
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    2014-12

    超细粉体的粉体特性和表面特征

    超细粉体的性能与普通的颗粒是有很大的不同的。但颗粒的尺度但到亚微米级尤其是纳微米级时,其表面的原子排列和电子分布结构及晶体结构较之普通颗粒均有明显变化,产生了有别于普通颗粒的表面效应、小尺寸效应、量子效应和量子隧道效应,因此,在某些特殊场合会具有优异的物理、化学及表面与界面性质。当颗粒尺寸处于微米级时,虽然去物理化学性能与普通颗粒的物理化学性质相差不大,但微米级颗粒的比表面积大、表面能高,表面与界面性质发生了很大的变化。如果现货单一的微米级的超细粉的物理化学性能与普通颗粒相差...
  • 24

    2014-12

    接触压降测试仪如何检测电能计量误差

    接触压降测试仪为测试产品提供恒定不变的测量电流,提高测量精度,保证了产品质量。该仪器还具有上限电压降参数设置,声光报警功能。外形美观大方,显示清淅直观,可靠性好等优点。专业用于测试各种开关、继电器、接触器、接线座、接线连接器等接触点两端间的实际工作电压降。是科研单位、计量测试部门、生产企业等单位的*仪器。由于电能计量综合误差过大是电能计量中普遍存在的一个关键问题,电能计量综合误差是由电压互感器的合成误差、电流互感器的合成误差、电度表的误差、电压互感器二次导线压降所引起的计量误...
  • 18

    2014-12

    颗粒表观密度测定仪的配置及适用范围

    颗粒表观密度测定仪主要用于从规定的漏斗中流出松散物料的表观密度测定,是化工行业原料进厂质量检验等理想的测试仪器。表观密度测定仪适用于聚氯乙烯树脂原料从大于100mL±0.5mL的漏斗中流出塑料松散物,当松散塑料流100mL±0.5mL的标准容器中后,再用直尺刮去标准容器上的多余试样,然后用天平称其重量,用下式进行计算ρ=M—m/V,得出表观密度值,该仪器是化工行业以及塑料原料质量检验的测试仪器。表观密度测定仪*符合标准的规定,具有体积小、设计合理、...
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    2014-12

    粉末振实密度仪的性质和功能简介

    可压缩系数和Hausner比是反映粉末振实密度仪被压缩时的性质,同时也反映了颗粒间的相互作用。流动性差的振实密度仪,颗粒间的相互作用比较明显,堆积密度和振实密度测得值差异比较大。这些差别反映在振实密度仪的可压缩系数和Hausner比。流动性好的振实密度仪,颗粒间的相互作用不明显,堆积密度和拍填密度值比较接近。这样的比较经常用来作为振实密度仪流动的能力指标,例如下文中所述的可压缩性系数或豪斯纳比。因为粒子间相互作用影响振实密度仪膨胀系数同时也会干扰振实密度仪的流动,在给定粉末振...
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    2014-11

    四探针电阻率测试仪的配置特点和技术参数

    四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份测试架及四探针头组成。本仪器的特点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源,使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关,在测量某些箔层材料时,可免除探...
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