当前位置:主页 > 产品中心 > 四探针电阻率/方阻测试仪 > 方阻测试仪 >导电性薄膜方阻测试仪测定方法

导电性薄膜方阻测试仪测定方法

型号:

产品时间:2020-03-24

简要描述:

导电性薄膜方阻测试仪测定方法,按标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》

详细介绍

导电性薄膜方阻测试仪测定方法

  标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》

显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

测试方式: 普通单电测量

工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

选购功能: 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

测试探头:   探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

导电性薄膜方阻测试仪测定方法

配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表

 


产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

推荐产品

版权所有 © 2019 宁波瑞柯伟业仪器有限公司 浙ICP备16040776号-2 技术支持:化工仪器网 管理登陆 GoogleSitemap

在线客服 联系方式 二维码

服务热线

86-0574-27976124

扫一扫,关注我们