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双电法四探针测试仪
更新时间:2015-04-18 点击次数:1632

双电法四探针测试仪

双电测四探针电阻率方阻测试仪

本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。


液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;


本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。



规格型号

FT-341

FT-342

FT-343

FT-345

FT-346

FT-347

1.方块电阻范围

10-5~2×105Ω/□

10-4~2×103Ω/□

10-3~2×105Ω/□

10-3~2×103Ω/□

10-2~2×105Ω/□

10-2~2×103Ω/□

2.电阻率范围

10-6~2×106Ω-cm

10-5~2×104-cm

10-4~2×106Ω-cm

10-4~2×104-cm

10-3~2×106Ω-cm

10-3~2×106Ω-cm

3.测试电流范围

0.1μA,μA,0μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

0.1μA,μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

4.电流精度

±0.1%读数

±0.2%读数

±0.2%读数

±0.3%读数

±0.3%读数

±0.3%读数

5.电阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.显示读数

大屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式

双电测量

8.工作电源

输入: AC 220V±10% ,50Hz  耗:<30W

9.整机不确定性误差

≤3%(标准样片结果)

10.选购功能

选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台

11.测试探头

探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针


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