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半导体高温电阻测试仪,导体高温电阻仪,高温四探针测试系统
时间:2015-03-07 点击次数:880

FT-351高温四探针电阻率测试系统四、技术参数资料

1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□

2.电阻率范围:10-6×106cm

3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

4.电流精度:±0.1%读数

5.电阻精度:≤0.3%

6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式: 双电测量

8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)

10. zui高温度: 1200℃可调节;冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C

11、升温速度:9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃;功率:3kw.

12、炉膛材料:采用复合陶瓷纤维材料,具有真空成型,高温不掉粉的特征。

13.专用测试PC软件一套,USB通讯接口,软件界面同步显示、分析、保存和打印数据!

14.选购:电脑和打印机

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