当前位置:主页 > 新闻中心 > 四探针测试仪为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率
四探针测试仪为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率
时间:2022-04-12 点击次数:744
  四探针测试仪为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率,可以测试到1uΩ方阻值,采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
  本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;
  四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。
  该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
  选购:本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用,通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求。
  四探针测试仪参数资料:
  1.方块电阻范围:10-6~2×102Ω/□
  2.电阻率范围:10-7~2×103Ω-cm
  3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100?A.
  4.电流精度:±0.1%读数
  5.电阻精度:≤0.3%
  6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.
  7.测试方式: 双电测量
  8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W
  9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)
  10.选购功能: 选购1.pc软件; 2.方形探头; 3.直线形探头; 4.测试平台
  11.测试探头:  探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针

版权所有 © 2019 宁波瑞柯微智能科技有限公司 浙ICP备2022000105号-3 技术支持:化工仪器网 管理登陆 GoogleSitemap

在线客服 联系方式 二维码

服务热线

0574-27976124

扫一扫,关注我们