方块电阻又称膜电阻，是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值，该数值大小可直接换算为热红外辐射率。
方块电阻的计算方法：
方块电阻：Rs=ρ/t(其中ρ为块材的电阻率,t为块材厚度）
或者写成电导率的表达式：Rs = 1/(σt)
这样 在计算块材电阻的时候，我们就可以利用方块电阻乘以长宽比例得到，计算过程与维度无关：
R=Rs*L/W(L为块材长度，W为块材宽度）
方块电阻测试仪是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、 ITO 导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。大显示屏，直观度数，稳定性好，可以外接其他控制单元，与其他系统集成使用；适用于覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜等。
