-
粉体流变仪以传统旋转流变仪控制系统为基础
粉体流变仪以传统旋转流变仪控制系统为基础，对测试粉体施加精确的力学（剪切应力，法向应力等）和环境条件（流化气体，温度，湿度等），并通过采集分析其力学响应，考察粉体流变性质，诸如内聚强度，固结特性，可压缩性，拉伸强度，壁摩擦，气体压降，气体渗透性，流化态黏度，分离性等特性。这些参数可以用于分析和指导粉体的气动输送，喷嘴中的粉体流动，粉末添加剂的选择，流化床反应器流态化的控制，筒仓的卸料，粉末的混合，分离以及结块等工艺。粉体流变仪配置两套测试单元：流化床测量池和剪切池，可根据粉末...
-
电压降测试仪的原理介绍
电压降测试仪适用于测量不可重接插头插销与连接插头引出线等类似接线口的电压降，从而判断接线口优劣，仪器具有可调的恒电流输出，微电压测试和数码管显示。电压降测试仪广泛用于电线束、插接器、开关触点、继电器、汽车开关和不可重接插头插销与连接插头引出线等类似接线口的电压降等相关产品之接触电阻、温升、电压降或负载测量，同时也适用于具有类似特性产品使用；与国际上通用之测量方式相通。原理：通过电流、电压和时间，来检测电线束插接器电压降、接触电阻和温升变化关系，是汽车用插接器的主要电气性能指标...
-
四探针测试仪的应用范围，你了解多少？
四探针测试仪的应用范围，你了解多少？四探针测试仪采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。四探针测试仪采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距...
-
粉体流动性测试仪的操作方法
粉末流动性是研究粉体材料的重要方法之一，在粉体行业中，粉体的流动能力是粉体的物理性能重要指标。粉体流动性测试仪可测试粉体流动性、安息角（休止角）、松装密度，是粉体行业测试粉体特性的理想仪器。粉体流动性测试仪的操作方法：1、接通粉末流动性测试仪压缩空气接口2、将流化杯底侧的流出小口用胶带纸封好。3、称取待测粉末样品250克,置于流化6中。4、打开旋纽,至压力表的刻度指示在1-3kgf。5、调节流量计按钮至200l/h,使粉末流化20-30秒左右,采用带刻度的塑料直尺测试粉末的z...
-
松装密度测定仪是一种高精度的松装密度测试仪器
松装密度测定仪是一种高精度的松装密度测试仪器。它是采用通行的斯柯特容量计法的、依据GB/T5060-1985（ISO3923/2）标准制造的、专门用来测定金属粉末的松装密度测定仪器，适用于各种金属粉末的松装密度测试。粉体松装密度的测试方法和标准很多，由于金属粉的密度较大，如果像其他粉体那样直接用漏斗法进行松装密度测试，则粉末下落的速度较快而形成的冲击力，将破坏了粉体自然堆积状态，给松装密度测试带来较大的误差。用斯柯特容量计法的中间设立了4道阻尼板，金属粉末下落的料流将依次接触...
-
粉体振实密度仪使用时需要注意哪几点？
粉体密度是指单位体积的粉体所对应的质量。由于粉体中颗粒与颗粒之间或颗粒内部存在空隙（或孔隙），其粉体的密度通常小于所对应物质的真密度。粉体密度按其测试方式的不同可以分为松装密度（又称堆积密度）和振实密度。松装密度是指粉体试样以松散状态，均匀、连续的充满已知容积的量杯，称出量杯和粉体试样的质量，便可算出粉体试样的松装密度。振实密度是指将盛在容器中的粉体在规定的条件下被振实后的密度。粉体振实密度是粉体质量其中一个重要指标。振实密度测量，是指将一定量的粉体装入容器中，在一定条件下振...
-
松装密度仪带你了解粒度与松装密度的区别
松装密度仪带你了解粒度与松装密度的区别粒度是指颗粒的大小。通常球体颗粒的粒度用直径表示，立方体颗粒的粒度用边长表示。对不规则的颗粒，可将与该颗粒有相同行为的某一球体直径作为该颗粒的等效直径。粒度的大小常用D50,D97,比表面积等指标表示。松装密度是粉末多种性能的综合体现，对粉末冶金、机械零件生产工艺的稳定，以及产品质量的控制都是很重要的，也是模具设计的依据。影响粉末松装密度的因素很多，如粉末颗粒形状、尺寸、表面粗糙度及粒度分布等。粒度与松装密度的区别：1、单一粒径颗粒不能达...
-
极片电阻仪的参考方法描述
随着锂电行业的飞速发展，锂离子电池已在手机、电脑、汽车、储能等领域广泛应用，用户对电池的快充要求越来越高，相应的对电池的倍率性能要求也越来越高。锂离子电池倍率性能与电池电阻息息相关，电池电阻包含离子电阻和电子电阻。极片电阻仪采用平面探头，对被测样品施加一定的压力来分析极片整体电阻，自动加压，压力可设定；PC软件界面操作，实现压强与电阻,电阻率，电导率关系图谱。参考方法描述：1.采用两探针法直接测量极片整体电阻率，包括探针本身电阻、探针与涂层的接触电阻、涂层电阻、涂层与集流体接...
